самой мелкой фракции приготовляют препарат, как и в предыдущем случае. Уже визуальное сравнение высоты пиков двух дифрактограмм позволяет сделать заключение о наличии тех или иных плоскостей спайности. Для количественной оценки измеряется высота пиков от всех плоскостей отражения и для каждой дифрактограммы вычисляется среднее значение IА, а каждый пик характеризуется отношением 1ШИА- Сравнением этих отношений соответствующих пиков двух дифрактограмм и решается вопрос о степени совершенства спайности. Так, для пирита (Егепзе1, В1озз, 1967) отношение 1Ы0ИА повышается с 1.51 од 2.86 (табл. 22), что указывает на наличие довольно четко выраженной спайности по (100). Спайность по (311) несколько худшая (увеличение 73]1/7Л от 1.29 до 1.56). Изменение интенсивности пиков дифрактограмм различно подготовленных препаратов пирита Таблица 22 1кк1ИА Препараты с хаотической ориентировкой зерен (ср. из 21 дифрактограммы) Препараты с ориентировкой зерен по спайности (ср. из 15 дифрактограмм) А 0.49 0.57 ^2оо/А 1.51 2.68 Л1о/^ А 1.13 0.64 ^211/^А 0.93 0.49 ^221)//А 0.65 0.05 1.29 1.56 Перечисленные и охарктераизованные методы открывают широкие возможности количественного изучения спайности на любом имеющемся в распоряжении минералога материале. Поверхность изломов изучается почти исключительно визуально. Исследования с помощью современных точных приборов настолько еще малочисленны, что по их результатам трудно выработать какую-то определенную методику. Углубление исследований в этом направлении — ближайшая задача кристалломе- ханики. Основной целью исследования поверхностей изломов является выяснение их пространственной геометрии. Оно может быть осуществлено с помощью визуальных, микроскопических и электронномикроскопических методов. Общим требованием ко всем методам является необходимость точной (графической или фотографической) документации, так как только накопив большой фактический материал по геометрии изломов, можно перейти к их клас174 Коми научный центр Уро РАН
RkJQdWJsaXNoZXIy MjM4MTk=