ускорения процесса можно вместо фотографирования воспользоваться каким-либо рисовальным приспособлением. Второй способ, способ разрезов, более сложен. Поверхность излома покрывается слоем любого твердого цемента, и исследуемый образец разрезается или приполировывается перпендикулярно ей. На шлифе становится четко заметен под микроскопом профиль поверхности излома со всеми его впадинами и выступами. Задача заключается в получении серии параллельных разрезов и документации проявляющихся на них профилей излома. Трудность состоит в точной фиксации расстояний между разрезами и совмещении полученных профилограмм. А. И. Ризоль и Е. Н. Алпатов (1967) предлагают применить последовательную полировку, постоянно отмечая ось разрезов (линию, перпендикулярную поверхности профиля) отпечатками алмазной пирамиды. Последовательность операций такова. На полированную поверхность первого разреза после снятия первой профилограммы наносится ряд отпечатков алмазной пирамиды и измеряются ихТдиагонали. Затем поверхность разреза слегка пришлифовывается на микронной бумаге (№ 4/0) с последующей полировкой. Получается новый разрез, параллельный первому, расстояние между которыми устанавливается по уменьшению стороны пирамидального отпечатка.9 Последовательно повторяя эти операции, можно получить сколько угодно разрезов и охарактеризовать профилограммами любую площадь поверхности излома. Очень эффективно изучение поверхности изломов с помощью интерференционного микроскопа, например МИИ-4, в поле зрения которого одновременно видны и план изучаемой поверхности, и профиль ее. Увеличение прибора (490х) достаточно для расшифровки очень тонких деталей рельефа. Для этой же цели очень удобны и световые (МИИ-4, МИС-11 и др.) или контактные (ИЗП-5, ИЗП-17 и др.) профилографы. Электронномикроскопическое исследован и е позволяет изучить еще более тонкие, чем микроскопическое, детали рельефа поверхностей изломов. Техника получения реплик с изломов минералов и их фотосъемка детально описаны в ряде работ (Грицаенко и др., 1960, 1961; Грицаенко, Самотоин, 1962, и др.). По электронномикроскопическим фотографиям довольно уверенно можно отличить поверхности спайности от внешне похожих на них плоскостей отдельностей, выяснить влияние включений на характер рельефа. К сожалению, данные по электронографии изломов еще очень ограничены, но этот метод их исследования представляется весьма перспективным. 9 Из расчета, что глубина отпечатка пирамиды Виккерса в 4.95 раза меньше его стороны, 176 Коми научный центр Уро РАН
RkJQdWJsaXNoZXIy MjM4MTk=