порошке абразива под небольшим давлением. Частички абразива наносят на поверхность кристаллического шара бесконечное множество мелких поверхностей излома, полученных при самых разнообразных направлениях разрушающей силы. Произведя измерение кристаллографической ориентировки этих поверхностей и нанеся, скажем, на сетку Вульфа статистически ■ обработанные результаты измерений, получим общую картину кристаллографического распределения поверхностей изломов. Ее можно получить и сразу, без промежуточных операций, . если воспользоваться методами Рис. 43. Поверхности хрупкого разрушения кристаллов гауэрита (а), шпинели (б) и галенита (в). Лучи — изломы первого типа, пятна — изломы второго типа; черные уточки — изломы третьего типа. световых фигур или фотогониометрии (рис. 43), которые мы рассмотрим в главе III. На общей резко анизотропной картине хрупкого разрушения кристаллов выделяются три типа поверхностей изломов, на совокупность которых впервые обратили особое внимание Г. А. Вольф и Дж. Д. Бродер (А/о11й, Вгойег, 1960). Первый тип поверхностей излома — псевдоцилиндрический. Поверхности излома состоят из множества фрагментальных плоских площадочек, лежащих в одном поясе. На фотограммах, световых картинах и гномостереографических проекциях они отражаются в виде несколько размазанных лучей, исходящих из определенных точек, характеризующих положение кристаллографических плоскостей, или в виде поясов, соединяющих эти точки. Второй тип поверхностей излома — сферический. Он сходен с предыдущим, но фрагментальные плоские площадочки концентрируются около определенных кристаллографических направлений, проявляясь на рефлексограммах в виде размазанных облакообразных световых пятен. Третий тип поверхностей излома — ровные, гладкие до зеркально-гладких, строго ориентированные кристаллографически и описывающиеся рациональными индексами. На рефлексограммах они отражаются интенсивными концентрированными 72 Коми научный центр Уро РАН
RkJQdWJsaXNoZXIy MjM4MTk=