тонкую вкрапленность, неправильной формы („хлопьевидные" ) мелкие выделения в породообразующих минералах, шлиры самых различных размеров. Границы шлиров чаще всего зазубрены, с с прямолинейными участками. Шлиры, как правило, поликристал- лические, вкрапленники моно- и поликристаллические. Наблюдается блокование и агрегатизация монокристаллических вкрапленников у их периферии, происходящие, видимо, в результате механических напряжений. Пирротин отчетливо ксеноморфен по отношению к породообразующим пироксенам и ильмениту, выполняет в них трещинк!?, цементирует обломки. По отношению к кварцу идиоморфен. Очень часто наблюдается, что пирротин как бы прорастается многочисленными иголочками амфибола; вероятно, эти иголочки являются более ранними образованиями. Кристаллы ильменита, окруженные пирротином или контактирующие с ним, изменены значительно сильнее, чем находящиеся среди силикатов. В этом случае они переполнены тонкой вкрапленностью сульфидов. Интересно отметить, что в крупных шлирах пирротина наблюдаются вытянутые кристаллы апатита, не встречающиеся во вмещающей породе. Заметим, что этот факт характерен и для норильских месторождений. Плотность пирротина колеблется от 4.430 до 4.473. Химический состав (табл. 14) варьирует в пределах от [ (Ре0.641Ч10.03)0.67Ре0.22] (1-0.11 )5 Д° [(Ре0.621Ч10.02)0.64 ’ 3+ 1 • Ге„ п, ,, _ ,„.3. Характерно высокое (1.68-1.95%) содержа- 0.24 \1“0в12/ ние никеля, вероятно, связанное с наличием большого количества веретенообразных и пламевидных выделений пентландита. Также отмечается повышенное содержание меди (0.39-0.75%) за счет включений халькопирита и присутствие мышьяка (0.01- 0.02%). Средние содержания акцессорных элементов-примесей (в %): Мп - 0.19, Мо - 0.002, V - 0.004, - 0.001, 2п - 0.006, Т1 - 0.02, Сг - 0.025, Ва - 0.01, Аз, РЬ , 5п, ЫЬ - сл.; постоянно присутствуют петрогенные элементы 51, А1, М§, Са, связанные, очевидно, с включениями вмещающих пород. По данным дифрактометрических исследований, в рудах развиты две фазы пирротина - гексагональная и моноклинная. Об этом свидетельствует, в частности, постоянное расщепление на дифрактограммах наиболее интенсивной линии с (1=2.06 А на две с межплоскостными расстояниями (1 = 2.050-2.054 и (1 = = 2.061-2.065 А и меняющейся их интенсивностью. Содержание гексагонального пирротина, рассчитанное по методу Р. Арнольда [306], колеблется от 0 до 25%. Двухфазное состояние пирротина подтверждается и другими методами: нагреванием по методу А.Д. Генкина и методом магнитной суспензии. 203 Коми научный центр Уро РАН
RkJQdWJsaXNoZXIy MjM4MTk=