Очевидно, что в связи с резким повышением эффективности современных шлиховых методов встает задача повторного шлихового картирования наиболее перспективных районов. Картирование директивных элементов, т. е. особенностей формы и строения минеральных индивидов, обусловленных анизотропией среды в моменты образования или изменения минералов, проводится с целью восстановления структуры десимметрирующего поля. Этот вид картирования, более известный как структурный анализ, очень широко применяется в минералогии. Обычно картирование директивных элементов осуществляется для расшифровки структур вязкого течения кристаллизующейся магмы и для восстановления полей механических напряжений. Структуры течения картируются по данным замеров ориентировки удлиненных кристаллов любых минералов, если известно, что кристаллы ориентировались по струям потока. Поля деформаций восстанавливаются как по данным ориентировки минеральных индивидов, так и по относительной степени развития и ориентировке систем механического двойникования, плоскостей спайности, плоскостей трансляционного скольжения, полос деформаций и т. п. Процедура картирования довольно проста. В поле или непосредственно измеряется ориентировка директивных элементов, если это возможно (например, ориентировка минеральных индивидов), или отбираются ориентированные образцы для лабораторных исследований. Наиболее распространенными методами изучения ориентированного материала с давних пор являются оптические. С помощью поляризационного микроскопа с федоровским столиком в ориентированных шлифах измеряется ориентировка самих индивидов, а также блоков деформации или других деформационных структур. В последнее время все шире применяются рентгеновские методы, в частности дифракционное изучение тектонитов. Для изотропных минералов, ориентировку которых трудно определить традиционными методами, нами предложен и применен на ряде объектов метод регенерации шаров. Смысл его заключается в следующем. На площади изучаемого участка, как и при обычном структурном картировании, отбираются ориентированные образцы, из которых выпиливаются шары с сохранением ориентационных меток. Поверхность шаров регенерируется с помощью подходящих приемов кристаллосинтеза, например, в автоклавах и приобретает кристаллическое строение. Путем фотогониометрии или гониометрии устанавливается ориентировка регенерированных субиндивидов, отражающая директивную структуру. Структурные диаграммы, изображающие результаты измерений на стереографической или какой-либо другой подходящей проекции, представляют собой основной документ наблюдения при минералогическом картировании директивных элементов. Они или снятая с них статистическая информация наносятся 160 Коми научный центр Уро РАН
RkJQdWJsaXNoZXIy MjM4MTk=