Оно показало, что результаты измерений на приборах ПМТ-3, МеЕ, Иеорйо! и 1\и (табл. 16), несмотря на значительные различия всех конструкций, вполне сопоставимы. Некоторые особенности измерения твердости методом микровдавливания. Исследование анизотропии твердости. Объектами исследования твердости чаще всего являются кристаллы минералов, неправильной формы зерна и обломки, агрегаты минералов. Только кристаллы несут на себе ровные гладкие естественные плоскости (грани) и в большинстве случаев не требуют предварительной обработки. Обломки, зерна, агрегаты нужно сделать пригодными к исследованию, получить на них необходимые для измерения ровные поверхности. Степень детальности исследования, количество измерений и плотность нанесения на объект отпечатков алмазной пирамиды завясит от целей исследования. Последние сводятся: а) к ориентировочному определению твердости, б) получению полной характеристики твердости объекта и в) специальным видам исследования. При ориентировочном определении твердости, по мнению большинства исследователей и нашему опыту, достоточно измерений 10—20 отпечатков, нанесенных на испытываемую поверхность с различной ориентировкой диагоналей. Среднее значение полученных замеров и пределы колебаний дают общее представление о величине твердости минерала и могут быть использованы как дополнительный диагностический признак (если, конечно, минерал не сильно анизотропен). Специальные виды исследований требуют индивидуального подхода, и давать какие-либо общие рекомендации трудно. Мы остановимся более подробно на получении полной твердостной характеристики минерала. При детальном исследовании твердости кристаллов очень остро выступает необходимость учета строгой кристаллографической фиксированности этого свойства — анизотропии твердости. Она может быть выявлена только измерением твердости по возможно большему числу кристаллографических направлений. Можно рекомендовать следующий порядок исследования. 1. Измерение твердости на каждой естественной грани кристалла по разным направлениям. Оно может проводиться на приборе с врезанным в предметный столик дополнительным вращающимся столиком.2 Явление анизотропии твердости на грани кристалла 3 отражается искаженной формой отпечатка (рис. 78), выражающейся различной длиной ее диагоналей и даже полудиагоналей (проекций ребер негативного отпечатка алмазной 2 В крайнем случае можно воспользоваться вращением алмазной пирамиды, но это очень неудобно и неточно. 3 Полярная анизотропия С. Д. Дмитриева (1949), анизотропия I рода по С. И. Лебедевой (1963а). 9 н. п. Юшкин 129 Коми научный центр Уро РАН
RkJQdWJsaXNoZXIy MjM4MTk=