пирамиды). Ее можно зафиксировать, если замерять длины полудиагоналей, различным образом ориентированных относительно ребер грани, и удваивать их при вычислении твердости. Для 180 180 180 ■ I I Рис. 78. Примеры отпечатков с искаженной формой, отражающей анизотропию твердости кристалла. выявления картины анизотропии измерения необходимо проводить по направлениям через 10°, и так как при каждой ориентиТаблица 17 ровке измеряются четыре полудиагонали, чтобы полу- Возможные направления измерения твердости при ориентировке образца от 0 до 80° относительно первоначальной Возможные направления измерения твердости Ориентировка кристалла относительно первоначальной 0° 0° 90° 180° 270° 10 10 100 190 280 20 20 110 200 290 30 30 120 210 300 40 40 130 220 310 50 50 140 230 320 60 60 150 240 330 70 70 160 250 340 80 80 170 260 350 считается чить значение твердости от 0 до 350°, достаточно изменить ориентировку образца от 0 до 80° (табл. 17). При каждой ориентировке наносится 10—12 отпечатков, равномерно распределенных по поверхности граней.Таким образом по 90—180 отпечаткам на одной грани получаем 360—720 замеров твердости. Следует отметить одну бытующую во многих работах методическую ошибку. Она заключается в том, что измеряются не полудиагонали отпечатка, а диагонали, и твердость в направлении а равной твердости в направлении а+180°. Но такая симметричная картина анизотропии твердости выдерживается лишь на гранях с высокой симметрией, а на грани низкой симметрии твердость по а не равна твердости по а+180°. С другой стороны, 130 Коми научный центр Уро РАН
RkJQdWJsaXNoZXIy MjM4MTk=