индентор с нагрузочным приспособлением к металлографическому микроскопу, например МИМ-7, укрепляя его на корпусе прибора (рис. 84). Для измерения упругого восстановления пластинка минерала помещается на столик микроскопа и в нее под оптимальной нагрузкой вдавливается алмазная пирамида. Упругое восстановление вычисляется измерением отпечатка непосредственно под пирамидой и после ее подъема. 2. Способ «закрашенного» индентора заключается в том, что перед нанесением отпечатка Рис. 84. Нагрузочное приспособление к микроскопу МИМ-7 (по Боярской и др., 1962). 1 — алмазная пирамида; 2 — шток; 3 — гиря; 4 — рукоятка для опускания индентора; 5 — колонка; 6 — винт для вращательного движения вокруг оси колонки; 7 — винт для установки по высоте; в — ручка для установки пирамиды в центре поля зрения; 9 — образец; 10 — диафрагма с делением на градусы; 11 — столик микроскопа МИМ-7; 12 — клеммы. алмазную пирамиду покрывают тонким слоем графита, взвешенного в воде. После нанесения отпечатка графит стирается с участка поверхности пирамиды, которая контактировала с испытываемым материалом. Измерив размеры участка, освобожденного от графита, легко вычислить длину диагонали, какую бы имел отпечаток при отсутствии упругого восстановления. Разность между этой длиной и длиной диагонали восстановленного отпечатка и служит мерой упругого восстановления. Недостаток способа — трудность точного измерения свободного от графита участка алмазной пирамиды и необходимость дополнительной установки на серийные микротвердометры приспособлений для этой цели. 3. Способ напыления. Перед измерением поверхность образца напыляется магнием или покрывается тонким (около 0.1 мк) слоем серебра, осажденного из паровой фазы. На хорошо приставшем напыленном слое четко отражаются границы первоначального невосстановленного отпечатка. Недостаток способа — необходимость предварительного напыления и трудность выбора участков для измерения на напыленной поверхности. Как же выражаются результаты измерения упругого восстановления отпечатка? Ю. С. Боярская и др. (1962, 1963, 1966) приводят непосредственно величину упругого восстановления стороны отпечатка (Д Ьо) в микронах как разность длин сторон невосстановленного и восстановленного отпечатков. Некоторые авторы приводят разность длин соответствующих диагоналей отпечатка. Такой способ выражения не верен, так как не учитывается величина прилагаемой нагрузки, а, как известно, упругое восстановление 140 Коми научный центр Уро РАН
RkJQdWJsaXNoZXIy MjM4MTk=