отпечатка пропорционально величине приложенной нагрузки. Например, по данным тех же авторов, упругое восстановление стороны отпечатка на кварце в одном и том же направлении при нагрузке 80 Г — 2.5 мк, при нагрузке 145 — 2.9 мк. Поэтому нельзя считать строго доказанным и заключение 10. С. Боярск й и др. (1966) о повышении величины упругого восстановления с увеличением твердости минерала, поскольку твердые минералы исследуются при значительно больших нагрузках, чем мягкие. Более строгую оценку упругого восстановления (кГ/мм2), учитывающую и величину приложенной нагрузки, дает разность между твердостью, вычисленной по диагонали невосстановленного отпечатка 7/пласт, и твердостью, вычисленной по диагонали восстановленного отпечатка Ипласт+упр ^^упр — ^пласт+упр пласт" Отмеченные выше недостатки способов изРис. 85. Невосстановленный (а) и восстановленный (б) отпечатки в упругом изотропном материале. мерения упругого восстановления отпечатка пирамиды ограничивают возможность применения метода микровдавливания. Необходим такой способ, который не требовал бы специальных сложных операций, а позволял измерять упругое восстановление параллельно с измерением твердости. В качестве такого способа мы предлагаем способ измерения деформации стороны отпечатка. 4. Способ измерения деформации стороны отпечатка. Замечено, что после снятия нагрузки в результате упругого восстановления отпечаток алмазной пирамиды деформируется неравномерно, даже если исследуется изотропное вещество. Многочисленными экспериментами на изотропном материале установлено, что наиболее сильному упругому восстановлению подвергаются грани отрицательной пирамиды (стороны отпечатка), с приближением к ребрам пирамиды упругое восстановление уменьшается, а сами ребра (диагонали отпечатка) остаются практически не восстановленными. Деформация отпечатка в результате упругого восстановления на ребрах практически отсутствует. Это происходит потому, что при вдавливании алмазной пирамиды в образец, ребра алмазной пирамиды создают значительно большее напряжение в материале образца, чем ее грани. Таким образом, величины диагоналей восстановленного и невосстановленного отпечатков в изотропном материале отличаются очень незначительно (рис. 85). Снятые 10. С. Боярской и М. И. Вальковской (1966) кинокадры процесса упругого восстановления отпечатка на оргстекле подтверждают это наблюдение. В анизотропном материале распределение сильно и слабо деформированных упругим восстановлением участков отпечатка 141 Коми научный центр Уро РАН
RkJQdWJsaXNoZXIy MjM4MTk=