более сложно, зависит от кристаллографического направления. Однако и в нем всегда стороны отпечатка восстанавливаются сильнее, чем диагонали, и на отпечатке любой ориентировки можно найти по крайней мере хотя бы одну диагональ или полудиагональ с неизменившейся или изменившейся очень незначительно после восстановления отпечатка длиной. На наличии а Рис. 80. Измерение упругого восстановления и деформации стороны отпечатка. такой диагонали и построен способ измерения деформации стороны отпечатка, с помощью которого вычисление упругого восстановления производится следующим образом. На нанесенном отпечатке после снятия нагрузки устанавливается наиболее длинная полудиагональ, которая будучи удвоенной и принимается за диагональ невосстановленного отпечатка. На ней мысленно строится квадрат, разме ры которого должны соответствовать размерам невосстановленного отпечатка (рис. 86, а, б). С помощью нитей окуляр-микрометра этот квадрат можно построить довольно точно. Затем окуляр-микромет- ром измеряется величина деформации грани отпечатка 8, как это показано на рис. 86, а. По одному отпечатку можно измерить деформацию в четырех направлениях, перпендикулярных проекции граней пирамиды. В этих направлениях, например в направлениях 45, 135, 225 и 315° относительно оси 2 (рис. 86, а), мы и имеем возможность оценить упругое восстановление. Величина упругого восстановления ДЯу||р вычисляется так же, как и при других способах: __ Г7 __ ГТ — ппласт+упр лпласт. За Я|1ласт принимается твердость, вычисленная по диагонали, равной удвоенной длине самой длинной полудиагонали отпечатка. Твердость Я„даст+упр вычисляется по диагонали квадрата, сторона которого является касательной к изгибу стороны отпечатка в точке измерения 8 (рис. 86, б). Диагональ Д может быть вычислена по формуле й8 = й — Дй = й — 1.4286' й — 1.46. 142 Коми научный центр Уро РАН
RkJQdWJsaXNoZXIy MjM4MTk=