метода следует отнести невозможность исследования образцов размером менее 2 мм (удобнее всего работать с образцами более 5 мм). Вольф и Бродер (\УоИ, Вгойег, 1960) рекомендуют следующую методику подготовки образцов для исследования. Монокристаль- ный образец минерала обтачивается, и ему придается сферическая форма. Затем сфера прокатывается при небольшом давлении между двумя листами грубой наждачной или карборундовой бумаги. Прокатку можно заменить вращением трубочки, заполненной грубым порошком абразива, в которую помещается сферический образец. Этими операциями достигается нанесение на поверхность образца бесчисленного количества микроскопически мелких поверхностей излома, вызванных самыми различными направлениями приложения разрушающей нагрузки. Наши эксперименты показали, что совершенно не обязательно придавать образцу сферическую форму. Можно просто с помощью грубой шкурки ободрать поверхность образца, проследив при этом, чтобы не осталось даже микРис. 98. Схема изучения спайности методом экрана. а — источник света; б — диафрагма; в — пучок параллельного света; г — экран; д — отраженные лучи; е — кристалл. роскопических участков первичной поверхности и в то же время не происходило полировки образца. У кристаллов, например, после этого сохраняется общая внешняя форма, что облегчает их ориентировку. Сильно пластичные, ковкие минералы приходится обдирать при низких температурах, когда они становятся хрупкими. Ориентировка поверхностей изломов и спайности определяется методом отражения. Возможны две вариации этого метода: экранный и фотогониометрический. Метод экрана заключается в том, что на неподвижно закрепленный кристалл или сферический образец минерала, обработанный как указано выше, направляется пучок света диаметром равным диаметру образца. Пучок пропускается через отверстие в плоском экране, установленном между образцом и источником света (рис. 98). Падающий на ободранную поверхность образца свет отражается поверхностями изломов и проектируется на экран в виде системы пятен и зон. Каждое световое пятно представляет собой отражение от многочисленных параллельных плоскостей спайности одной и той же системы. Плоскости наиболее совершенной спайности дают и более четкие яркие сигналы, а несовершенная спайность отража168 Коми научный центр Уро РАН
RkJQdWJsaXNoZXIy MjM4MTk=