ется размазанными облакообразными рефлексами. Следовательно, по яркости и четкости рефлексов можно судить о степени совершенства спайности, а измерив интенсивность, можно выразить ее количественно. Световые зоны отражают целые серии плоскостей изломов, группирующихся по определенным кристаллографическим наРис. 99. Схема фотогониаметра (вид сбоку и сверху). 1 — опорный брус; 2 — источник света; з — конденсор; 4 — диафрагма; 5 — цилиндрическая кассета; в — фотопленка; 1 — цилиндрический экран визуального наблюдения; 8 — горизонтальный круг; 9 — вертикальный круг; 10 — стержень; 11 — стопорный винт; 12 — юстировочная каретка; 13 — игла-кристаллоносец; 14 — кристалл. правлениям. Это ослабленные зоны кристалла, по которым, так же как и по плоскостям спайности, преимущественно происходит хрупкий излом. Но они не так строго кристаллографически фиксированы, как плоскости спайности, хотя и тоже связаны с особенностями кристаллической структуры. Измеряя расстояние х и у (рис. 89), можно определить сферические координаты плоскостей изломов, дающих рефлексы на экране, и нанести их на сетку Вульфа, получив очень наглядную геометрическую картину (рис. 43, 100). Точность вычисления координат 1—2°. Фотогониометрический метод сходен с методом экрана, но он дает возможность уловить все рефлексы, в том числе и от плоскостей, образующих острые углы со световым пучком. Устройство прибора понятно из рис. 99. Подробное изложение методики фото- гониометрических исследований можно найти в ряде работ (Моки169 Коми научный центр Уро РАН
RkJQdWJsaXNoZXIy MjM4MTk=