1.3.2. Физика конденсированных сред и физическое материаловедение 2.1.2. Впервые в рамках двумерных рекуррентных соотношений изучена рентгеновская дифракция в кристалле с произвольным распределением деформаций кристаллической решетки в геометрии Лауэ. На основе двумерных рекуррентных соотношений разработан алгоритм вычислений интенсивности когерентного рассеяния вблизи узла обратной решетки и выполнено численное моделирование рентгеновской дифракции в кристалле кремния с термомиграционными каналами 8^А1). Показано изменение углового распределения интенсивности рассеяния в зависимости от величины деформаций в канале и сканирования падающего рентгеновского пучка вдоль входной поверхности кристалла (рис. 2.1.2). 15Ч0-6 ЗХ1О* 2Х10-4 ■ 1ХЮ-3 5x10'3 ЗхЮ’2 |2х10-1 1x10° ■ 5Х10-6 ■ з»10* 2Х10-4 11ХЮ-3 5x10'3 ЗхЮ’2 2х10’1 ■ 1x10° Ях, цт’1 (а) Рисунок 2.1.2. Карты углового распределения интенсивности рентгеновской Лауэ Дифракции от совершенного кристалла & (а) и канала Ы(А/) с Деформацией е0 = 1 х 10-5 (Ь). Физико-математический институт ФИЦ Коми НЦ УрО РАН (г. Сыктывкар), д.ф.-м.н. Пунегов В. И. Публикация: 1. Рипедо^ V Реыргоса1-зрасе тарртд са1си1айоп8 оГ Х-гау ^а^е ^йгасРоп т а сгузЫ \\'ИЬ ^ке^тот^д^а^^оп скаппе1з / V Рипедоу // ,1оигпа1 оГАррНед С’г\'з1а11одгар11\', 2025, ^1. 58, Р 260-268. 2.1.3. Методами ЫБХАР8- и ХР8-спектроскопии с использованием синхротронного излучения были исследованы твердые растворы впервые синтезированных высокоэнтропий11 Коми научный центр Уро РАН
RkJQdWJsaXNoZXIy MjM4MTk=